| 型 號(hào)： | |
| 所屬分類： | OPTACOM輪廓粗糙度儀 |
| 報(bào) 價(jià)： | 市場(chǎng)價(jià): |
OPTACOM致力于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場(chǎng)精密輪廓粗糙度測(cè)量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測(cè)量?jī)x或精密輪廓粗糙度綜合測(cè)量?jī)x。粗糙度儀儀器參數(shù)符合ISO、DIN、JIS、EN等各類標(biāo)準(zhǔn)。
OPTACOM致力于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場(chǎng)精密輪廓粗糙度測(cè)量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測(cè)量?jī)x或精密輪廓粗糙度綜合測(cè)量?jī)x。粗糙度儀參數(shù)符合ISO、DIN、JIS、EN等各類標(biāo)準(zhǔn)。CNC全自動(dòng)X、Z軸采用全程大量程高精度光柵尺，選配上下雙向測(cè)針，Y軸自動(dòng)工作臺(tái)同時(shí)可測(cè)量旋轉(zhuǎn)類工件內(nèi)外徑幾何尺寸(自動(dòng)鎖定拐點(diǎn)測(cè)直徑)，內(nèi)外輪廓形貌等。再選配分度頭裝夾工件，可測(cè)量圓度、圓柱度及不同截面的復(fù)雜幾何尺寸。
粗糙度儀主要 特點(diǎn)：
◆儀器主體結(jié)構(gòu)采用輕型耐用的航空合金材料
◆ X軸與Z軸采用獨(dú)立機(jī)械系統(tǒng)，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)X&Z雙軸全量程范圍內(nèi)連續(xù)掃描，并保持針尖分辨率恒定
◆ X軸與Z軸采用獨(dú)立整體光柵系統(tǒng)
◆ THK*供給的超精密線性導(dǎo)軌
◆ 非接觸式增量光柵的測(cè)量系統(tǒng)，密閉式的設(shè)計(jì)可zui大程度降低磨損和提高讀數(shù)可靠性
◆ 輕型高強(qiáng)度碳纖維聚合物測(cè)量臂
◆ 電子反饋測(cè)力機(jī)構(gòu)
◆ 快速裝卸測(cè)針裝置，可自定位
◆ 操縱桿全自動(dòng)控制測(cè)量
| 硬件特點(diǎn) | 軟件優(yōu)點(diǎn) |
| 模塊化設(shè)計(jì)，升級(jí)簡(jiǎn)單 | 所有測(cè)量模塊，一個(gè)測(cè)量軟件 |
| 維護(hù)保養(yǎng)成本低 | 人性化的軟件，操作簡(jiǎn)單 |
| 增量式光柵 | 軟件支持中文及多國(guó)語(yǔ)言 |
| 測(cè)針全自動(dòng)接觸工件表面 | 一次測(cè)量即可評(píng)價(jià)輪廓度、粗糙度、圓度 |
| 測(cè)針堅(jiān)實(shí)耐用,全自動(dòng)防撞保護(hù)系統(tǒng) | 全自動(dòng)測(cè)針校準(zhǔn) |
| 固定式測(cè)桿系統(tǒng) | 可自定義打印模板 |
| zui大425X425mm標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量范圍 | 測(cè)量和打印多窗口獨(dú)立顯示 |
| 移動(dòng)亦可測(cè)量，測(cè)量亦可移動(dòng) |
技術(shù)參數(shù)：
| 型號(hào) | VC10 | VC10EL | VC10UL | LC10 |
| X軸測(cè)量范圍mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| Z軸測(cè)量范圍mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| X軸Z軸全量程分辨率 | 0.002μm | 0.02μm | ||
| 針尖分辨率 | 小于3nm | 小于30nm | ||
| 測(cè)量力(軟件自動(dòng)調(diào)節(jié)) | 0-150mN | |||
| 測(cè)量長(zhǎng)度 | 0.1-225/325/425mm | |||
| 爬坡能力 | 上坡78°, 下坡87° | |||
Optacom公司擁有大量程精密雙向測(cè)量技術(shù)的，通過(guò)雙向測(cè)量模塊的應(yīng)用，用戶可以非常容易的測(cè)量工件的輪廓，角度，距離，圓弧半徑和標(biāo)注公差等。這使得用戶能方便的測(cè)量出工件的整個(gè)輪廓，并能分析各個(gè)元素之間的關(guān)系。
Optacom公司的雙向測(cè)量技術(shù)非常簡(jiǎn)單易懂，通過(guò)對(duì)零件的上下輪廓的精密掃描，在軟件中建立起零件的坐標(biāo)系，從而可以計(jì)算零件整個(gè)輪廓各個(gè)部分之間的尺寸和位置關(guān)系。
應(yīng)用實(shí)例：
外螺紋測(cè)量實(shí)例：
內(nèi)螺紋測(cè)量實(shí)例：
超深內(nèi)孔輪廓測(cè)量實(shí)例：
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